Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4204948.aspx

IEC 62047-6(2009)

Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 6. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 62047-6(2009)
Заглавие на русском языкеПолупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 6. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
МКС31.080.99
Вид стандартаST
Дата опубликования16.04.2009
Язык оригиналаанглийский;французский
Количество страниц оригинала34
ТК – разработчик стандарта SC 47F
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыD

Стандарт IEC 62047-6(2009) входит в рубрики классификатора: