| Обозначение | IEC 62415(2010) |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Constant current electromigration test |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 19.05.2010 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 26 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | C |
 |