Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4576440.aspx

DIN EN 62417-2010

Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN EN 62417-2010
Заглавие на русском языкеПолупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010); German version EN 62417:2010
Дата опубликования01.12.2010
МКС31.200
Вид стандартаST
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала9
Перекрестные ссылки
Код ценыPreisgruppe 9

Стандарт DIN EN 62417-2010 входит в рубрики классификатора: