| Обозначение | IEC 60749-40(2011) |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Методы климатических и механических испытаний. Часть 40. Метод испытания на падение с бортового уровня с использованием датчика деформаций |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 13.07.2011 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 48 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | F |
 |