| Обозначение | IEC 60749-27(2006)/Amd.1(2012) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду. Машинная модель. Изменение 1 |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM). Amendment 1 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого в части | IEC 60749-27(2006) |
| Дата опубликования | 25.09.2012 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 10 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | A |
 |