| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-22:2004 01 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22. Прочность сварных контактов |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength (IEC 60749-22:2002 + Corrigendum 1:2003) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.01.2004 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |