Обозначение | OVE/ONORM EN 62417:2011 01 01 |
Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010) (english version) |
Код МКС | 31.080.01 |
Дата опубликования | 01.01.2011 |
Язык оригинала | английский |
![](/i/imgs/sp.gif) |