| Обозначение | OVE/ONORM EN 62374:2008 03 01 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.03.2008 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |