Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/5372698.aspx

OVE/ONORM EN 60749-20-1:2009 12 01

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2-1. Обработка, упаковка, этикетирование и отгрузка поверхностно монтируемых устройств, чувствительных к совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке

На английском языкеПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеOVE/ONORM EN 60749-20-1:2009 12 01
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2-1. Обработка, упаковка, этикетирование и отгрузка поверхностно монтируемых устройств, чувствительных к совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20-1:2009) (english version)
Код МКС31.080.01
Дата опубликования01.12.2009
Язык оригиналаанглийский

Стандарт OVE/ONORM EN 60749-20-1:2009 12 01 входит в рубрики классификатора: