Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/5372795.aspx

OVE/ONORM EN 60749-37:2008 10 01

Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра

На немецком языкеПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеOVE/ONORM EN 60749-37:2008 10 01
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008)
Код МКС31.080.01
Дата опубликования01.10.2008
Язык оригиналанемецкий

Стандарт OVE/ONORM EN 60749-37:2008 10 01 входит в рубрики классификатора: