| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-38:2008 12 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.12.2008 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |