| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749+A1+A2:2002 11 01 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.11.2002 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |