Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/5376619.aspx

OVE/ONORM EN 60749-15:2011 08 01

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов

На немецком языкеПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеOVE/ONORM EN 60749-15:2011 08 01
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2010) (german version)
Код МКС31.080.01
Дата опубликования01.08.2011
Язык оригиналанемецкий

Стандарт OVE/ONORM EN 60749-15:2011 08 01 входит в рубрики классификатора: