| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-14:2004 08 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) (IEC 60749-14:2003) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.08.2004 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |