| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-20:2010 05 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20. Сопротивление поверхностно монтируемых устройств в пластмассовом корпусе совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2008) (english version) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.05.2010 |
| Язык оригинала | английский |
 |