| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-21:2012 03 01 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климаических испытаний. Часть 21. Паяимость |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (IEC 60749-21:2011) (english version) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.03.2012 |
| Язык оригинала | английский |
 |