| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-23:2011 09 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (english version) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.09.2011 |
| Язык оригинала | английский |
 |