OVE/ONORM EN 60749-29:2012 03 01 | Электронный магазин стандартов

OVE/ONORM EN 60749-29:2012 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (german version)

	На немецком языке
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	OVE/ONORM EN 60749-29:2012 03 01
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (german version)
Код МКС	31.080.01
Дата опубликования	01.03.2012
Язык оригинала	немецкий

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \