| Обозначение | OVE/ONORM EN 62415:2011 01 01 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010) (english version) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.01.2011 |
| Язык оригинала | английский |
 |