Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-23:2011 09 01 |
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (german version) |
Код МКС | 31.080.01 |
Дата опубликования | 01.09.2011 |
Язык оригинала | немецкий |
|