OVE/ONORM EN 60749-29:2012 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (english version)
На английском языке
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
OVE/ONORM EN 60749-29:2012 03 01
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (english version)
Код МКС
31.080.01
Дата опубликования
01.03.2012
Язык оригинала
английский
Стандарт OVE/ONORM EN 60749-29:2012 03 01 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/5383942.aspx