| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-40:2012 04 01 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011) (german version) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.04.2012 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |