Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-2:2003 10 01 |
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002) |
Код МКС | 31.080.01 |
Дата опубликования | 01.10.2003 |
Язык оригинала | немецкий |
|