| Обозначение | OVE/ONORM EN 62374-1:2011 08 01 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010) (german version) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.08.2011 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |