| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-35:2007 04 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.04.2007 |
| Язык оригинала | немецкий |
 |