Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/5388202.aspx

OVE/ONORM EN 62047-12:2012 08 01

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS

На английском языкеПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеOVE/ONORM EN 62047-12:2012 08 01
Заглавие на русском языкеПолупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures (IEC 62047-12:2011) (english version)
Код МКС31.080.99
Дата опубликования01.08.2012
Язык оригиналаанглийский

Стандарт OVE/ONORM EN 62047-12:2012 08 01 входит в рубрики классификатора: