| Обозначение | DIN 50443-2-1994 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографии |
| Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds |
| Дата опубликования | 01.06.1994 |
| МКС | 29.045 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50443-2(1992-03) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 7 |
| Перекрестные ссылки | DIN 50433-1(1976-12)*DIN 50433-3(1982-04)*DIN 50434(1986-02)*DIN 50443-1(1988-07) |
| Код цены | Preisgruppe 7 |
 |