OVE EN 60749-44:2017 05 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices ( IEC 60749-44:2016) (english version)
На английском языке
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
OVE EN 60749-44:2017 05 01
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices ( IEC 60749-44:2016) (english version)
Код МКС
31.080.01
Дата опубликования
01.05.2017
Язык оригинала
английский
Стандарт OVE EN 60749-44:2017 05 01 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6315260.aspx