Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6315434.aspx

OVE EN 62047-25:2017 05 01

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area (IEC 62047-25:2016) (german version)

На немецком языкеПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеOVE EN 62047-25:2017 05 01
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area (IEC 62047-25:2016) (german version)
Код МКС31.080.99
Дата опубликования01.05.2017
Язык оригиналанемецкий

Стандарт OVE EN 62047-25:2017 05 01 входит в рубрики классификатора: