| Обозначение | IEC 62880-1(2017) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Стандарт на определение миграции, вызванной напряжениями. Часть 1. Стандарт на определение миграции меди, вызванной напряжениями |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1: Copper stress migration test standard |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 23.08.2017 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 28 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | F |
 |