| Обозначение | DIN EN 60749-6-2017 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017); German version EN 60749-6:2017 |
| Дата опубликования | 01.11.2017 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-6(2003-04)*DIN EN 60749-6(2016-09) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 9 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-20(2008-12)*IEC 60749-43(2017-06) |
| Код цены | Preisgruppe 9 |
 |