OVE EN 60749-9:2017 12 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017) (english version)
На английском языке
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
OVE EN 60749-9:2017 12 01
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017) (english version)
Код МКС
31.080.01
Дата опубликования
01.12.2017
Язык оригинала
английский
Стандарт OVE EN 60749-9:2017 12 01 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6343339.aspx