OVE EN 60749-28:2018 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2017) (german version)
На немецком языке
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
OVE EN 60749-28:2018 03 01
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2017) (german version)
Код МКС
31.080.01
Дата опубликования
01.03.2018
Язык оригинала
немецкий
Стандарт OVE EN 60749-28:2018 03 01 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6411055.aspx