| Обозначение | IEC 62047-35(2019) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 35. Метод определения электрических характеристик при деформации изгиба гибких электромеханических устройств |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices |
| МКС | 31.080.99 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 22.11.2019 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 41 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47/SC 47F |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | F |
 |