OVE EN IEC 60749-18:2020 03 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 18: Ionizing radiation (total dose) (( IEC 60749-18:2019) EN IEC 60749-18:2019) (english version)
На английском языке
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
OVE EN IEC 60749-18:2020 03 01
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 18: Ionizing radiation (total dose) (( IEC 60749-18:2019) EN IEC 60749-18:2019) (english version)
Код МКС
31.080.01
Дата опубликования
01.03.2020
Язык оригинала
английский
Стандарт OVE EN IEC 60749-18:2020 03 01 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6489384.aspx