| Обозначение | IEC 60749-15(2020) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-15(2010) |
| Дата опубликования | 14.07.2020 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 17 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 3.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | C |
 |