KS C IEC 60749-7 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-7
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-7
Международный стандарт	IEC 60749-7:2011(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Дата опубликования	2020.07.23
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \