KS C IEC 60749-2
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C IEC 60749-2
Международный стандарт
IEC 60749-2:2002(IDT)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Дата опубликования
2020.07.23
Код МКС
31.080.01
Стандарт KS C IEC 60749-2 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6840027.aspx