KS C IEC 60749-6 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-6
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-6
Международный стандарт	IEC 60749-6:2017(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Дата опубликования	2020.07.23
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \