KS C IEC 60749-4 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-4
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state,highly accelerated stress test(HAST)

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-4
Международный стандарт	IEC 60749-4:2017(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state,highly accelerated stress test(HAST)
Дата опубликования	2020.07.23
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \