| Обозначение | IEC 63287-1(2021) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Общее руководство по оценке надежности полупроводниковых приборов. Часть 1. Руководство по оценке надежности интегральных схем |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 25.08.2021 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 86 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | J |
 |