KS C IEC 60749-19 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-19
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-19
Международный стандарт	IEC 60749-19:2003+AMD1:2010 CSV(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
Дата опубликования	2020.11.20
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \