KS C IEC 60749-13
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C IEC 60749-13
Международный стандарт
IEC 60749-13:2002(IDT)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
Дата опубликования
2020.12.31
Код МКС
31.080
Стандарт KS C IEC 60749-13 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6873013.aspx