KS C IEC 60749-20 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-20
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-20
Международный стандарт	IEC 60749-20:2008(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Дата опубликования	2020.11.20
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \