ASTM F744M-16
Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits (Metric)
Оригинал+перевод
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
ASTM F744M-16
Заглавие на английском языке
Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits (Metric)
Количество страниц оригинала
7
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6882399.aspx