| Обозначение | IEC 60749-28(2022) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 28. Проверка чувствительности к электростатическому заряду. Модель заряженного устройства. Уровень устройства |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-28(2017) |
| Дата опубликования | 01.03.2022 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 98 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | J |
 |