KS C IEC 62047-18(2021 Confirm)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C IEC 62047-18(2021 Confirm)
Международный стандарт
IEC 60747-18:2013(IDT)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials
Дата опубликования
2016.12.29
Код МКС
31.080.99
Стандарт KS C IEC 62047-18(2021 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы прочие \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6897421.aspx