KS C IEC 60749-23 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-23
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-23
Международный стандарт	IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Дата опубликования	2021.12.29
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \