KS C IEC 60749-31(2021 Confirm)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31:Flammability of plastic-encapsulated devices(internally induced)
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C IEC 60749-31(2021 Confirm)
Международный стандарт
IEC 60749-31:2002(IDT)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31:Flammability of plastic-encapsulated devices(internally induced)
Дата опубликования
2006.11.30
Код МКС
31.080.01
Стандарт KS C IEC 60749-31(2021 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6898135.aspx