KS C IEC 60749-18
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation(total dose)
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C IEC 60749-18
Международный стандарт
IEC 60749-18:2019(IDT)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation(total dose)
Дата опубликования
2021.12.29
Код МКС
31.080.01
Стандарт KS C IEC 60749-18 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6898264.aspx